DUALSCOPE MPOR
DUALSCOPE MPOR adalah coating thickness gauge portable yang digunakan untuk mengukur ketebalan coating secara non-destructive pada berbagai substrate logam. Instrumen ini cocok untuk inspeksi coating pada steel, iron, aluminum, copper, brass, zinc, stainless steel, dan material metal lainnya yang membutuhkan kontrol ketebalan lapisan secara cepat, praktis, dan akurat.
Dalam aplikasi coating, ketebalan film kering sangat penting untuk memastikan perlindungan substrate, ketahanan korosi, tampilan permukaan, dan kesesuaian terhadap spesifikasi teknis. DUALSCOPE MPOR menggunakan dua metode pengukuran, yaitu magnetic induction untuk coating non-magnetic pada ferrous substrate dan eddy current untuk coating non-conductive pada non-ferrous metal. Sistem ini dapat mengenali material substrate secara otomatis dan memilih metode pengukuran yang sesuai.
DUALSCOPE MPOR dirancang dalam bentuk pocket-size dengan probe terintegrasi untuk penggunaan satu tangan. Instrumen ini memiliki data memory hingga 10,000 readings, tampilan statistik seperti mean value, standard deviation, minimum, maximum, dan number of measurements per block, serta USB interface untuk transfer data ke FISCHER DataCenter software. Produk ini cocok untuk protective coatings, industrial coatings, automotive coatings, metal finishing, corrosion protection, tank inspection, dan quality control coating di laboratorium maupun lapangan.
| Applications | Product | Product Information | Tautan Informasi |
| Dry film thickness measurement, coating thickness measurement, non-destructive coating inspection, protective coatings, industrial coatings, automotive coatings, corrosion protection, metal finishing, tank and container inspection, ferrous substrates, non-ferrous substrates, steel, iron, aluminum, copper, brass, zinc, stainless steel, magnetic induction measurement, eddy current measurement, SSPC-PA2, IMO PSPC, ASTM D7091, ISO 2178, ISO 2360, dan ISO 2808 | DUALSCOPE MPOR | Portable coating thickness gauge untuk pengukuran ketebalan coating pada ferrous dan non-ferrous metal substrates. Menggunakan magnetic induction dan eddy current method dengan automatic substrate recognition. Dilengkapi probe terintegrasi, data memory hingga 10,000 readings, statistic display, USB interface, dan FISCHER DataCenter software untuk dokumentasi, evaluasi statistik, dan pembuatan inspection report. | Lihat Informasi |
